目錄第1章 孔的產生及多孔固體分類 11.1 各類孔產生的根源 11.1.1 擠壓粉末成型中的孔 11.1.2 膠體中的孔 21.1.3 穩定晶體中的孔 31.1.4 熱過程和化學過程產生的孔 31.2 復合孔結構 41.3 孔體系分類 51.4 實際固體 71.5 固體的表面與孔 81.6 多孔固體與大比表面積非孔固體 91.7 外表面與內表面 101.8 孔尺寸分類 11第2章 吸附的基本理論 132.1 物理吸附和化學吸附 132.2 吸附等溫線 152.3 吸附力 162.4 體表面的吸附現象 192.5 通過吸附等溫線進行表面與孔的研究 202.6 朗繆爾理論知識 212.7 BET基本理論概述 232.8 吸附回線與孔結構 272.9 吸附層分子所占的面積與厚度 312.10 一種改進的物理吸附模型 32第3章 吸附等溫線及測定 353.1 靜態法 353.1.1 體積法 353.1.2 重量法 373.2 動態法 393.2.1 連續流動法 393.2.2 雙氣路法 393.2.3 色譜法 413.2.4 程序升溫法 43第4章 微孔固體表面的吸附：Ⅰ型等溫線 454.1 引言 454.2 Ⅰ型等溫線 454.3 極細孔中的力場 534.4 微孔分析概述 544.5 等溫線法微孔分析 554.5.1 V-t*線的概念 554.5.2 t線圖方法 564.5.3 αs方法 594.6 t線圖擴展理論的微孔分析方法 604.7 總的微孔體積和比表面積 624.8 Dubinin-Radushkevich方法 634.9 Horvath-Kawazoe方法 644.10 NLDFT的應用：將微/中孔分析與單一方法相結合 664.11 氮氣吸附質之外的超、極微孔孔隙度測量 69第5章 非孔固體表面的吸附：Ⅱ型等溫線 725.1 引言 725.2 BET模型 735.3 BET方程的數學特征 765.3.1 拐點 775.3.2 對BET型的評價 785.4 BET方程應用于實驗數據 795.5 B點 825.6 BET單層容量可靠性的檢驗 845.7 氮吸附等溫線BET面積與其他方法測定值的比較 865.8 影響分子截面積am的因素 905.9 氮以外的其他吸附質 945.9.1 氬氣吸附質 955.9.2 氪氣吸附質 985.9.3 氙氣吸附質 995.9.4 烷烴吸附質 1005.9.5 苯吸附質 1015.9.6 氧氣吸附質 1025.9.7 二氧化碳吸附質 1025.9.8 小結 1035.10 階梯形等溫線 1045.11 多層區Frenkel-Halsey-Hill（FHH）方程 1075.12 標準等溫線的概念 108第6章 中孔固體表面的吸附：Ⅳ型等溫線 1116.1 引言 1116.2 滯后回線的類型 1156.3 毛細凝聚與Kelvin方程 1166.3.1 Young-Laplace方程 1166.3.2 Kelvin方程 1186.4 rm與孔徑的關系 1196.5 滯后與毛細凝聚的關系 1216.6 用Kelvin方程計算孔徑分布 1256.7 Kelvin方程有效性范圍 1286.7.1 *率效應 1286.7.2 抗拉強度效應 1296.7.3 除氮以外的其他吸附質 1336.8 以Ⅳ型等溫線求比表面積 1356.8.1 BET法 1356.8.2 利用孔徑分布計算總比表面積 1366.9 壓汞計算法 1366.10 表面張力和接觸角 1376.11 孔徑分布的測定—壓汞法與氮吸附法測定結果的比較 1396.12 壓力對孔結構的影響 1406.13 滯后現象 1416.14 用汞置換和其他流體置換法測定孔體積 1436.15 用壓汞法測定比表面積 1446.16 小結 146第7章 Ⅲ型和Ⅴ型吸附等溫線簡介 1477.1 Ⅲ型等溫線 1477.2 BET方法對Ⅲ型等溫線的有效性 1517.3 由Ⅲ型等溫線用αs線圖計算比表面積 1537.4 孔隙度的影響 1547.4.1 中孔 1547.4.2 微孔 1557.5 水的吸附特性 1567.5.1 在炭上吸附 1567.5.2 在氧化硅上吸附 1617.5.3 在金屬氧化物上吸附 1657.5.4 在氧化鈦上的吸附 167第8章 氣體吸附測定比表面積和孔徑分布 1718.1 吸附物的選擇 1718.2 實驗方法的選擇 1718.3 吸附劑脫氣 1718.4 吸附等溫線的解釋 1728.5 等溫線的重復性與可逆性 1728.6 等溫線類型和滯后回線類型 1728.7 BET法分析 1738.8 中孔孔徑分布計算 1738.9 微孔性的估計 173參考文獻 174