包郵電子元器件聲學(xué)掃描檢查方法

作者：張魁

出版社：北京郵電大學(xué)出版社出版時間：2022-07-01

開本：其他頁數(shù)： 228

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版權(quán)信息
內(nèi)容簡介
目錄
作者簡介

電子元器件聲學(xué)掃描檢查方法版權(quán)信息

ISBN：9787563566716
條形碼：9787563566716 ; 978-7-5635-6671-6
裝幀：一般膠版紙
冊數(shù)：暫無
重量：暫無
所屬分類：
工業(yè)技術(shù)
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電子通信

電子元器件聲學(xué)掃描檢查方法內(nèi)容簡介

本書定位于電子元器件聲學(xué)掃描方法的入門和精通，既可作為零基礎(chǔ)人員的入門指南，也可作為有一定基礎(chǔ)的聲掃試驗人員進階使用。試驗原理部分和操作指南部分主要是入門內(nèi)容，可用于新員工培訓(xùn)。應(yīng)用案例部分和試驗技巧部分是進階提升內(nèi)容，可用于已掌握聲掃試驗技術(shù)的人員進一步提高，快速提升其自身水平和間接經(jīng)驗。塑封器件部分可用于開闊視野，提升塑封器件聲掃試驗人員的認知水平。

電子元器件聲學(xué)掃描檢查方法目錄

第1篇試驗原理第1章超聲波基礎(chǔ) 1.1 超聲波定義 1.1.1 超聲波頻率 1.1.2 超聲波波形 1.2 超聲波的特點 1.2.1 超聲波的優(yōu)點 1.2.2 超聲波的缺點 1.2.3 界面處的超聲波 1.3 主要用途 1.3.1 主要應(yīng)用領(lǐng)域 1.3.2 在半導(dǎo)體器件及封裝上的應(yīng)用第2章超聲波檢測技術(shù) 2.1 概述 2.1.1 超聲掃描簡介 2.1.2 超聲波可以檢測到的缺陷 2.2 超聲波檢測原理 2.2.1 檢測原理 2.2.2 常用聲阻抗 2.2.3 常用反射率 2.3 缺陷判斷方法 2.3.1 極性對比法 2.3.2 反射率分析法 2.4 超聲波檢測和X射線檢測比較第3章聲學(xué)掃描顯微鏡工作原理 3.1 聲學(xué)掃描顯微鏡分類 3.2 激光掃描聲學(xué)顯微鏡工作原理 3.3 C模式聲學(xué)掃描顯微鏡工作原理(反射模式) 3.3.1 系統(tǒng)組成 3.3.2 工作原理 3.4 C模式聲學(xué)掃描顯微鏡工作原理（透射模式） 3.4.1 透射模式工作原理 3.4.2 透射模式與反射模式區(qū)別第4章換能器 4.1 換能器參數(shù) 4.2 換能器分類 4.2.1 按頻率分類 4.2.2 不同頻率探頭的應(yīng)用領(lǐng)域舉例 4.3 換能器特性 4.3.1 分辨率 4.3.2 靈敏度 4.3.3 穿透深度 4.3.4 換能器頻率與特性關(guān)系 4.4 換能器性能參數(shù)參考第5章聲學(xué)掃描顯微鏡工作模式 5.1 A掃描模式 5.1.1 A掃描工作原理 5.1.2 A掃描特點 5.2 B掃描模式 5.2.1 B掃描工作原理 5.2.2 B掃描特點 5.3 C掃描模式 5.3.1 C掃描工作原理 5.3.2 C掃描特點 5.4 逐層掃描模式 5.4.1 逐層掃描工作原理 5.4.2 逐層掃描特點 5.5 T掃描模式 5.5.1 T掃描工作原理 5.5.2 T掃描特點 5.6 其他掃描模式 5.6.1 表面平整度掃描模式 …… 第2篇操作指南第3篇應(yīng)用案例第4篇試驗技巧第5篇塑封器件

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電子元器件聲學(xué)掃描檢查方法作者簡介

張魁，2010年畢業(yè)于北京航空航天大學(xué)，碩士，現(xiàn)任職于中國電子科技集團公司第十三研究所，高級工程師。從事元器件質(zhì)量與可靠性研究工作，主持獲得2019年河北省科技進步獎、2020年河北省三三三人才等稱號，已授權(quán)或受理國家發(fā)明專利9項，發(fā)表SCI及EI期刊論文12篇，軟件著作權(quán)2項，出版論著3本，受聘河北科技大學(xué)校外碩士生導(dǎo)師。

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